TI 코리아 (대표이사 켄트 전, www.ti.com/ww/kr) 2012년 11월 26일 – TI(대표이사 켄트 전)는 혹독한 환경에서 이용할 수 있는 업계 최초의 고온 비휘발성 플래시 메모리 디바이스 SM28VLT32-HT를 출시한다고 밝혔다. 4MB 용량을 제공하는 SM28VLT32-HT는 데이터시트 규격의 외부 온도 범위에서 사용되는 산업용 등급 부품의 적합성 여부 검사가 필요 하지 않아 비용을 크게 줄일 수 있다. 또한 극한의 온도에서도 데이터 로깅(data logging)이 가능하며 석유 및 가스 탐사, 산업용 중장비, 항공기 등과 같은 혹독한 환경에서 최소한 1,000시간의 동작 수명을 보장한다. (자세한 제품 정보, 샘플 및 EVM 주문에 관한 내용은 http://www.ti.com/sm28vlt32-ht-pr-kr 참조)

SM28VLT32-HT의 주요 기능 및 장점:
• 가장 넓은 온도 범위: -55C~+210C 온도 범위로 동작할 수 있는 유일한 비휘발성 플래시 메모리 디바이스
• 높은 신뢰성: 전체 온도 범위에 걸친 테스트 결과, 동작 수명 내내 견고한 읽기/쓰기 
• 설계 시간 단축: 외부 부품이 필요 없어 혹독한 환경에 이용하기 위한 애플리케이션을 보다 빠르고 안전하게 개발할 수 있으며 개발, 테스트 및 검증 작업에 걸리는 시간을 6개월까지 단축
• 견고한 소형 패키지: 세라믹 플랫 팩(ceramic flat pack)이나 KGD(Known Good Die)에 사용 가능하며, SM28VLT32-HT는 멀티칩 모듈로 통합이 가능해 보드 공간이 제한적인 시스템에 적합
• 직렬 인터페이스: SPI 인터페이스를 제공해 디자인과 패키징을 간소화하고 핀 수를 줄임

패키징, 공급 및 가격
 SM28VLT32-HT는 현재 8mm x 25mm 세라믹 플랫 팩으로 샘플이 공급되고 있으며, KGD 패키지 옵션과 양산 공급은 2013년 1분기로 예정하고 있다.

툴 및 지원
 고온에서 보다 쉽게 평가할 수 있도록 견고한 보드를 채택한 HTFLASHEVM 평가 모듈이 현재 제공되고 있다. 또한 고객들은 TI E2E™ 커뮤니티의 고신뢰성 포럼(High Reliability Forum)에서 질문을 게재하고 TI 전문가들로부터 도움을 얻을 수 있다.
                    
고신뢰성 분야에 이용 가능한 추가 포트폴리오
 고온의 고신뢰성 애플리케이션에 이용할 수 있는 TI의 아날로그 및 임베디드 프로세싱 제품 포트폴리오는 새로운 SM28VLT32-HT를 비롯해 SM470R1B1M-HT ARM7TDMI™ 마이크로컨트롤러 및 SM320F28335-HT Delfino™ 디지털 신호 컨트롤러 등을 포함한다. 

TI의 고온 제품 관련 링크:
• SM28VLT32-HT 샘플 주문: www.ti.com/sm28vlt32-ht-sample-pr
• HTFLASHEVM 평가 모듈 주문: www.ti.com/sm28vlt32-ht-evm-pr
• 데이터시트 다운로드: www.ti.com/sm28vlt32-ht-ds-pr
• TI의 전체 고온 IC 및 관련 시스템 블록 다이어그램: www.ti.com/hightemp-pr
• TI의 고온 가이드(High-Temperature Guide) 다운로드: www.ti.com/hightempguide-pr

TI의 고온 및 고신뢰성 제품
 고객들은 혹독한 환경에서 동작하는 산업용, 항공우주, 방위, 의료용 및 컨수머 시장의 까다로운 요구를 충족하기 위해서 TI가 제공하는 축적된 고신뢰성 제품에 대한 전문성, 업계에서 가장 포괄적인 유형의 아날로그 및 임베디드 프로세싱 제품 및 다양한 부가가치 서비스를 활용하고 있다. TI는 -55C부터 최대 220C에 이르는 확장된 온도 범위, 방사선 내구성 설계, 베이스라인 제어, 확장된 제품 수명, 노후화 완화, 군용 표준의 기준 충족, ITAR 플로우 지원, 자체 프로세스 기술에 대한 요구를 충족하는 솔루션 및 서비스를 제공하고 있다. TI의 고신뢰성 패키징은 세라믹, 플라스틱, KGD(Known Good Die) 웨이퍼 솔루션을 포함한다. (보다 자세한 내용은 www.ti.com/hirel 참조)