더블 펄스 테스트(DPT)를 통한 WBG 반도체 스위칭 성능 최적화

2025-03-27 10:30~12:00

Tektronix / Cameron Lowe

웨비나정보 웨비나Q&A

조*식2025-03-27 오전 11:16:21
Vds 측정에서는 영향이 덜한 이유가 궁금합니다.
tektronix12025.03.27
Vgs는 공통모드전압 수백V에서 상대적으로 작은 10V~20V 정도의 작은 전압이기 때문에 공통모드의 영향이 큽니다.
VOTH***2025-03-27 오전 11:16:13
I am a newbie in this field. So, I hope you can provide some more details on the gate resistor value that slows down the dv/dt. How can the signal be classified with the phenomenon by the device with the system performance? As normally, the unexpected current presented by the overshoot current?
tektronix12025.03.27
We will contact you separately.
조*나2025-03-27 오전 11:15:49
[질문] 2025년에 가장 도입이 활발할 산업 및 업무영역은 무엇이고, 이를 위해 어떤 준비가 되어 있는지 궁금합니다
tektronix22025.03.27
아무래도 전기차가 우선이고, 전력 변환 장치 성능이 요구되는 많은 곳들이 있을 것이라 기대합니다.
조*나2025-03-27 오전 11:14:59
[질문] 기존 고객이 가장 만족해 하는 부분은 무엇이고, 어떤 특장점이 있나요?
tektronix12025.03.27
기존에 메뉴얼 측정에서의 시간, 휴먼에러 등등을 줄일수 있는점이 가장 큰 장접 입니다.
조*식2025-03-27 오전 11:13:17
현재 THDP/TMDP0200이나 0100 모델로 Vds를 주로 측정합니다. High-side Vgs는 웨비나 내용처럼 실제보다 과도하게 큰 ringing 이 발생하는 것은 확인 했었는데 DUT Vds 측정 시에도 공통 모드 노이즈로 인해 신호가 크게 왜곡될 수 있나요?
tektronix12025.03.27
Vds 측정에서는 공통모드 노이즈가 Vgs에 비해서 상대적으로 적게 영향을 받습니다. Vds는 THDP/TMDP로 측정 합니다.
조*식2025-03-27 오전 11:07:35
현재 Tek 측에서 제공하는 자동화 측정은 여러 패키지의 Power Module 도 지원하는 건가요? 아니면 discrete 모듈만 지원하나요?
tektronix12025.03.27
WBG-DPT sw는 모듈에 관계없이 Vgs, Vds, Id 만 획득할 수 있는 환경이면 측정이 가능합니다.
조*식2025-03-27 오전 11:06:03
세미나 중반에 high-side Vgs 측정 시 차동 프로브 공통 모드 간섭 제거 성능에 따른 파형 차이를 다룬 부분에 대해서 좀 더 자세한 자료가 없을까요?
tektronix22025.03.27
우선 저희 웹사이트 링크 몇 개 공유드립니다. 웨비나 종료 후 내용 취합하여 이메일로 회신드리겠습니다: https://www.tek.com/en/solutions/industry/power-semiconductor/validating-wide-bandgap-devices https://www.tek.com/en/datasheet/wide-bandgap-double-pulse-test-analysis-455b6b-series-mso-option-4wbgdpt5wbgdpt6wbgdpt-application
tektronix22025.03.27
아이고, 하이퍼링크가 적용 안되네요. 웨비나 후에 다시 정리해드릴게요 ^^
생조**2025-03-27 오전 10:59:56
"How can we prevent excessive dv/dt when extremely high voltage is applied in switching circuits?"
tektronix12025.03.27
Increasing the gate resistor value slows down the dv/dt. At this time, dv/dt that is too slow will increase the loss, so it must be properly controlled.
이*규2025-03-27 오전 10:59:54
웨비나 내용에서 Tektronix DPT 솔루션이 JEDEC/IEC 표준 기반의 자동화된 스위칭 손실 분석을 제공한다고 소개되었습니다. 기존의 수동 측정 방식과 비교했을 때, 데이터 신뢰성과 분석 속도 측면에서 어떤 실질적인 이점이 있으며, 이러한 자동화 기능이 향후 전력 반도체 테스트 산업에 미칠 영향은 무엇이라고 생각하시나요?
tektronix22025.03.27
JEDEC 표준을 준수하는자동화 측정이기 때문에 수동 측정 대비 일관성이 높아 데이터 정확성이 향상됩니다. 물론 측정하시는데 속도도 향상 되고요 ^^
이*규2025-03-27 오전 10:59:22
SiC 및 GaN과 같은 WBG 반도체는 빠른 스위칭 속도로 인해 전압 및 전류 측정 시 신호 왜곡과 공통 모드 노이즈 문제가 발생할 가능성이 큽니다. Tektronix DPT 솔루션이 이러한 문제를 해결하기 위해 제공하는 프로브 기술과 측정 기법의 차별점은 무엇인가요? 특히 GHz 대역에서도 신뢰성 높은 측정을 보장하는 핵심 기술이 궁금합니다
tektronix12025.03.27
이와 관련된 두가지 절연 프로브가 있습니다. TIVP와 TICP 인데요, 이 프로브들은 각각 광절연, RF 절연을 이용해서 공통모드 노이즈 제거율을 높여 측정할 수 있게 해줍니다. 특히 기존에 측정이 어려웠던 High side의 Vgs도 측정할 수 있게 되었습니다.

1 2 3 4