AI, 데이터센터, 반도체 등 최신 기술이 요구하는 고속 인터페이스 검증은 점점 더 까다로워지고 있습니다. 이로 인해 까다로워진 테스트 마진, 길어지는 테스트 시간, 폭발적으로 증가하는 검증 항목으로 고민하고 계신가요?
 
텍트로닉스 웨비나에서 이러한 도전 과제를 어떻게 접근 해야할 지 이해하고, 보다 실질적으로 설계 검증의 효율성과 정확성을 한 차원 높일 수 있는 측정 기술 요소들을 확인하세요. 또한, 텍트로닉스의 혁신적인 신제품, 7 시리즈 DPO 오실로스코프를 활용한 구체적인 실전 분석 방법을 안내할 예정입니다.
업계 최고 수준의 신호 충실도와 측정 처리량을 자랑하는 텍트로닉스 7 시리즈 DPO 오실로스코프를 활용하여, 최신 고속 시리얼 신호 측정 및 분석 기법에 자신감을 더할 수 있도록 구성될 예정입니다.

주요 내용:

• 차세대 고속 시리얼 통신의 핵심 과제
• 측정 마진 확보를 위한 근본적인 접근 - 유효 비트수 (ENOB)에 주목해야 하는 이유 등
• 7 시리즈 실시간 데모

          → Jitter 분석, Equalization, Eye Diagram (SIM/SIMA & DJA)
          → High-Loss Channel 신호 복원 (QuietChannel™)
          → 최대 10배 빠른 데이터 전송으로 테스트 시간 단축 (TekHSI™)

추천 대상:

• 고속 시리얼 검증과 신호 무결성 분석에 어려움을 겪는 모든 엔지니어
• 고에너지 물리학, 국방 및 항공우주, 반도체 등 첨단 연구 현장에서 정밀 측정을 필요로 하는 연구원 등.